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Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial - Armando Albertazzi G. Jr. - 9788520433751

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Ficha técnica

Informações Básicas

ISBN9788520433751
ISBN-108520433758
TítuloFundamentos de Metrologia Científica e Industrial
AutorArmando Albertazzi G. Jr.
EditoraManole Técnico

Descrição

O menor preço encontrado no Brasil para Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial - Armando Albertazzi G. Jr. - 9788520433751 atualmente é R$ 116,10.

Avaliação dos usuários

4.8

57 avaliações

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Excelente

Recomendo

Livro excelente, com boas orientações. Recomendo.

Anonimo

• Via Amazon

Chegou rapido.

Recomendo

Pacote muito grande e livro veio com pequenos danos (amassado e rasgos), porém nada que impossibilitasse o uso. Chegou rápido.

Mauricio

• Via Amazon

Indispensável para quem trabalha em Indústria .

Recomendo

A obra parte dos conceitos mais básicos aos mais aprofundados usando vários exemplos e uma linguagem bastante clara e objetiva . Muito boa obra .

Flávio

• Via Amazon

Excelente livro

Recomendo

Ótima referencia para engenheiros da área de metrologia e para concursos que cobram essa disciplina

João

• Via Amazon